Определение смачиваемости островковыми пленками различных подложек - Гладких, Н.Т.; Дукаров, С.В.; Степанова, С.В.; Мильто, Л.И. (ИПМ НАНУ, 1985)
Изложены методы определения краевых углов смачивания для частиц микронных размеров, основанные на использовании оптической микроскопии. Приведены результаты изучения смачивания для тройных систем жидкая островковая пленка — пленка переменной толщины — монокристалл (РЬ—Ni—NaCl, Sn—С—КСl). Показано, что смачивание зависит от толщины промежуточного слоя.
Keywords: Thin films; surface energy; Wetting; Research Subject Categories::NATURAL SCIENCES::Physics::Condensed matter physics::Surfaces and interfaces