Юрко, Віталій Вадимович2025-01-202023Юрко, Віталій Вадимович. Адаптація комерційного методу визначення теплопровідності тонких плівок з геометрією подовженої підвісної мембрани для in situ досліджень у вакуумі : кваліфікаційна робота магістра : освітня програма «Прикладна фізика» / В.В. Юрко ; наук. кер. С.І. Богатиренко. - Харків : Харківський національний університет імені В. Н. Каразіна, 2023. - 34 с.https://ekhnuir.karazin.ua/handle/123456789/19743Кваліфікаційна робота магістра. - Керівник: Богатиренко Сергій Іванович, кандидат фізико-математичних наук, доцент кафедри експериментальної фізики Фізичного факультетуukNATURAL SCIENCES::Physicsнанорозмірні плівкові структуритонкі конденсовані плівкиTFA чіпиметод TFA (Thin Film Analyzer)метод Ван-дер-Паукоефіцієнт Холакоефіцієнт Зеєбекаметод 3ωnanoscale film structuresthin condensed filmsTFA chipsTFA (Thin Film Analyzer) methodthe Van der Pauw methodHall coefficientthe Seebeck coefficientthe 3ω methodOther