Єгоров, Вадим АнатолійовичYegorov, V.A.2021-05-252021-05-252020Єгоров, Вадим Анатолійович. Підвищення метрологічних та експлуатаційних характеристик елементів та систем атомно-емісійного спектрального аналізу : дисертація ... кандидата фізико-математичних наук за спеціальністю 01.04.01 – фізика приладів, елементів і систем / В.А. Єгоров ; Інститут радіофізики та електроніки ім. О. Я. Усикова НАН України, Харківський національний університет імені В. Н. Каразіна. – Харків, 2020. - 198 с.https://ekhnuir.karazin.ua/handle/123456789/16137Дисертацію присвячено розв’язанню задачі виявлення фізичних закономірностей процесів збудження, аналізу та реєстрації спектрів плазмових утворень в апаратурі атомно-емісійного спектрального аналізу (АЕСА), та використання цих закономірностей для удосконалення аналітичної апаратури. Виконана розробка комплексу апаратури АЕСА з удосконаленими метрологічними та експлуатаційними характеристиками. Розроблено та виготовлено дуговий генератор з програмним керуванням параметрами розряду. Створено декілька багатоканальних спектрометрів. Розроблено та виготовлено камери реєстрації спектрів. Розроблено способи підвищення роздільної здатності фотоприймачів. Запропоновані способи розширення динамічного діапазону фотодетекторів. Розроблена апаратура реєстрації гіперспектральних зображень. Запропоновано алгоритм оптимальної фільтрації результатів спектральних вимірювань.Yegorov V. A. Improving metrological and operational characteristics of elements and systems of atomic emission spectral analysis. – Manuscript. Thesis for Candidate Degree in Physical and Мathematical Sciences, Speciality 01.04.01 – Physics of Devices, Elements and Systems. – O. Ya. Usikov Institute for Radiophysics and Electronics, National Academy of Sciences of Ukraine; V. N. Karazin Kharkiv National University, Ministry of Education and Science of Ukraine, Kharkiv, 2020. The dissertation is devoted to solving the problem of identifying the physical laws of the processes of excitation, analysis and registration of the spectra of arc and spark plasma formations in the equipment for atomic emission spectral analysis, and the use of these laws to improve the metrological and operational characteristics of analytical equipment. The development and creation of a complex of equipment for atomic emission spectral analysis, research and implementation of methods for improving their metrological and operational characteristics have been completed.ukатомно-емісійний спектральний аналіздугове джерело спектраоптичний спектрометерПЗЗ фотодетекторроздільна здатністьдинамічний діапазонatomic emission spectral analysisarc spectrum sourceoptical spectrometerCCD photodetectorresolutiondynamic rangeBook