Вплив механічних напружень, спричинених дефектами в плівках ванадію, на дифузію та електроперенесення водню

Abstract

Модель випадкових блукань частинки по ланцюгу потенційних ям різної глибини застосована до розрахунку коефіцієнту дифузії та швидкості електроперенесення водню в плівках ванадію з дефектами. Дефекти моделювались як глибокі потенційні ями. Вивчався рух протону у полі деформацій пружного розтягу, які виникають в околі дефекту. Знайдено, що такий рух уповільнює процеси дифузії та електроперенесення водню. Знайдено, що ефективний коефіцієнт дифузії атомів водню лінійно зменшується при збільшенні градієнту деформації кристалічної ґратки поблизу дефектів структури.

The model of random walks of a particle along a chain of potential wells of different depths was applied to calculate the diffusion coefficient and the velocity of hydrogen electromigration in vanadium films with defects. The defects were modeled as deep potential wells. The motion of a proton in the field of elastic tensile deformations that arise in the vicinity of defects was studied. It was found that such motion slows down the processes of hydrogen diffusion and electromigration. It was found that the effective diffusion coefficient of hydrogen atoms decreases linearly with an increase in the gradient of elastic deformations near structural defects.