Адаптація комерційного методу визначення теплопровідності тонких плівок з геометрією подовженої підвісної мембрани для in situ досліджень у вакуумі
Вантажиться...
Дата
Автори
ORCID
DOI
Науковий ступінь
Рівень дисертації
Шифр та назва спеціальності
Рада захисту
Установа захисту
Науковий керівник
Члени комітету
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Харків : Харківський національний університет імені В. Н. Каразіна
Анотація
Опис
Кваліфікаційна робота магістра. - Керівник: Богатиренко Сергій Іванович, кандидат фізико-математичних наук, доцент кафедри експериментальної фізики Фізичного факультету
Ключові слова
NATURAL SCIENCES::Physics, нанорозмірні плівкові структури, тонкі конденсовані плівки, TFA чіпи, метод TFA (Thin Film Analyzer), метод Ван-дер-Пау, коефіцієнт Хола, коефіцієнт Зеєбека, метод 3ω, nanoscale film structures, thin condensed films, TFA chips, TFA (Thin Film Analyzer) method, the Van der Pauw method, Hall coefficient, the Seebeck coefficient, the 3ω method
Бібліографічний опис
Юрко, Віталій Вадимович. Адаптація комерційного методу визначення теплопровідності тонких плівок з геометрією подовженої підвісної мембрани для in situ досліджень у вакуумі : кваліфікаційна робота магістра : освітня програма «Прикладна фізика» / В.В. Юрко ; наук. кер. С.І. Богатиренко. - Харків : Харківський національний університет імені В. Н. Каразіна, 2023. - 34 с.