Адаптація комерційного методу визначення теплопровідності тонких плівок з геометрією подовженої підвісної мембрани для in situ досліджень у вакуумі
Loading...
Date
Authors
ORCID
DOI
item.page.thesis.degree.name
item.page.thesis.degree.level
item.page.thesis.degree.discipline
item.page.thesis.degree.department
item.page.thesis.degree.grantor
item.page.thesis.degree.advisor
item.page.thesis.degree.committeeMember
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Харків : Харківський національний університет імені В. Н. Каразіна
Abstract
Description
Кваліфікаційна робота магістра. - Керівник: Богатиренко Сергій Іванович, кандидат фізико-математичних наук, доцент кафедри експериментальної фізики Фізичного факультету
Keywords
NATURAL SCIENCES::Physics, нанорозмірні плівкові структури, тонкі конденсовані плівки, TFA чіпи, метод TFA (Thin Film Analyzer), метод Ван-дер-Пау, коефіцієнт Хола, коефіцієнт Зеєбека, метод 3ω, nanoscale film structures, thin condensed films, TFA chips, TFA (Thin Film Analyzer) method, the Van der Pauw method, Hall coefficient, the Seebeck coefficient, the 3ω method
Citation
Юрко, Віталій Вадимович. Адаптація комерційного методу визначення теплопровідності тонких плівок з геометрією подовженої підвісної мембрани для in situ досліджень у вакуумі : кваліфікаційна робота магістра : освітня програма «Прикладна фізика» / В.В. Юрко ; наук. кер. С.І. Богатиренко. - Харків : Харківський національний університет імені В. Н. Каразіна, 2023. - 34 с.