ОСОБЛИВОСТІ МЕТРОЛОГІЧНОГО ЗАБЕЗПЕЧЕННЯ НАНОВИМІРЮВАНЬ
| dc.contributor.author | Бондар, Д. Ю. | |
| dc.date.accessioned | 2024-11-26T07:18:38Z | |
| dc.date.accessioned | 2026-09-28T20:59:28Z | |
| dc.date.available | 2024-11-26T07:18:38Z | |
| dc.date.issued | 2023 | |
| dc.identifier.citation | Бондар Д. Ю. Особливості метрологічного забезпечення нановимірювань / Д. Ю. Бондар // Якість, стандартизація та метрологічне забезпечення: матеріали 2-ї міжнародної наук.-практ. конф. (м. Харків, 14-15 берез. 2023 р] / за заг. ред. д-ра техн. наук, проф. Р. М. Тріща, канд. техн. наук доц. Г. С. Грінченко ; Укр. інж.-пед. акад. – Харків : УІПА, 2023. – С. 48-49. | uk_UA |
| dc.identifier.uri | https://ekhnuir.karazin.ua/handle/123456789/35504 | |
| dc.language.iso | uk | uk_UA |
| dc.publisher | УІПА | uk_UA |
| dc.title | ОСОБЛИВОСТІ МЕТРОЛОГІЧНОГО ЗАБЕЗПЕЧЕННЯ НАНОВИМІРЮВАНЬ | uk_UA |
| dc.type | Thesis | uk_UA |