Методи індексування рентгенограм металів за допомогою пакету комп’ютерних програм FullProf Suite

Abstract

Дипломна робота присвячена дослідженню розрахунку параметрів кристалічної структури полікристалічних зразків кубічної системи. У роботі проведено зйомку рентгенограм за допомогою дифрактометричного та фотографічного методів, а також розрахунок параметрів кристалічної ґратки з використанням програмного пакету FullProf Suite. Особлива увага приділена автоматизованому індексуванню дифракційних максимумів та визначенню параметрів кристалічної ґратки, що мають важливе значення для ідентифікації фаз та аналізу кристалічної структури досліджуваних матеріалів.

The diploma work is devoted to the study of the calculation of parameters of the crystal structure of polycrystalline samples of the cubic system. The work includes the recording of X-ray diffraction patterns using diffractometric and photographic methods, as well as the calculation of the crystal lattice parameters using the FullProf Suite software package. Special attention is paid to the automated indexing of diffraction maxima and the determination of crystal lattice parameters, which are important for the identification of phases and analysis of the crystal structure of the materials under study.