Перегляд за Автор "Кришталь, А.П."
Зараз показуємо 1 - 2 з 2
- Результатів на сторінці
- Налаштування сортування
Документ Плавление-кристаллизация наночастиц Sn, Bi и Pb в контакте с Al(НФТЦ МОН и НАНУ, 2007) Богатыренко, С.И.; Дукаров, С.В.; Колендовский, М.М.; Кришталь, А.П.The results of studies of supercooling upon crystallization value of Bi, Sn and Pb nanosized particles on the Al substrate and between the Al layers have been presented. It has been shown the efficiency of usage of layered film systems for investigation of the limiting supercooling in particle-matrix systems with an eutectic type of interaction between components. The obtained results have been discussed and compared with literature data. - - - - - - - - Представлены результаты исследований переохлаждений при кристаллизации наноразмерных частиц Bi, Sn и Pb на Al подложке и между слоями алюминия. Показана эффективность использования слоистых пленочных систем для исследования предельного переохлаждения в системах частица–матрица с эвтектическим типом взаимодействия между компонентами. Полученные результаты обсуждены и сопоставлены с литературными данными.Документ Поверхностные явления и фазовые превращения в конденсированных пленках(ХНУ имени В. Н. Каразина, 2004) Гладких, Н.Т.; Дукаров, С.В.; Кришталь, А.П.; Ларин, В.И.; Сухов, В.Н.; Богатыренко, С.И.Обобщаются исследования поверхностных явлений и фазовых превращений в конденсированных пленках. Подробно рассмотрены особенности проявления размерного эффекта при формировании и в уже сформировавшихся островковых пленках, связанные с образованием, температурной и размерной устойчивостью жидкой, аморфной и различных кристаллических фаз. Приводятся обширные результаты по размерной и температурной зависимости поверхностной энергии; смачиванию малыми частицами поверхности твердых тел, свободных тонких пленок и пленок на подложках при различном характере физико-химического взаимодействия. Рассматриваются исследования ряда бинарных фазовых диаграмм при помощи нового метода, позволяющего впервые визуализовать всю или необходимую часть диаграммы на одном образце и проследить за ее эволюцией с изменением характерного размера. Обсуждаются особенности структурного состояния малых частиц. Для специалистов в области физики твердого тела, физики пленок, поверхностных явлений и фазовых превращений, а также студентов старших курсов физических и физико-технических специальностей.