Підвищення метрологічних та експлуатаційних характеристик елементів та систем атомно-емісійного спектрального аналізу

dc.contributor.authorЄгоров, Вадим Анатолійович
dc.contributor.authorYegorov, V.A.
dc.date.accessioned2021-05-25T08:49:10Z
dc.date.available2021-05-25T08:49:10Z
dc.date.issued2020
dc.description.abstractДисертацію присвячено розв’язанню задачі виявлення фізичних закономірностей процесів збудження, аналізу та реєстрації спектрів плазмових утворень в апаратурі атомно-емісійного спектрального аналізу (АЕСА), та використання цих закономірностей для удосконалення аналітичної апаратури. Виконана розробка комплексу апаратури АЕСА з удосконаленими метрологічними та експлуатаційними характеристиками. Розроблено та виготовлено дуговий генератор з програмним керуванням параметрами розряду. Створено декілька багатоканальних спектрометрів. Розроблено та виготовлено камери реєстрації спектрів. Розроблено способи підвищення роздільної здатності фотоприймачів. Запропоновані способи розширення динамічного діапазону фотодетекторів. Розроблена апаратура реєстрації гіперспектральних зображень. Запропоновано алгоритм оптимальної фільтрації результатів спектральних вимірювань.
dc.description.abstractThe dissertation is devoted to solving the problem of identifying the physical laws of the processes of excitation, analysis and registration of the spectra of arc and spark plasma formations in the equipment for atomic emission spectral analysis, and the use of these laws to improve the metrological and operational characteristics of analytical equipment. The development and creation of a complex of equipment for atomic emission spectral analysis, research and implementation of methods for improving their metrological and operational characteristics have been completed.
dc.identifier.citationЄгоров, В. А. Підвищення метрологічних та експлуатаційних характеристик елементів та систем атомно-емісійного спектрального аналізу : дисертація ... кандидата фізико-математичних наук (спеціальність 01.04.01 – фізика приладів, елементів і систем) / Єгоров Вадим Анатолійович ; Харківський національний університет імені В. Н. Каразіна. – Харків, 2020. - 198 с.
dc.identifier.urihttps://ekhnuir.karazin.ua/handle/123456789/16137
dc.language.isouk
dc.publisherХарків : Харківський національний університет імені В. Н. Каразіна
dc.subjectTECHNOLOGY::Electrical engineering, electronics and photonics
dc.subjectатомно-емісійний спектральний аналіз
dc.subjectдугове джерело спектра
dc.subjectоптичний спектрометер
dc.subjectПЗЗ фотодетектор
dc.subjectроздільна здатність
dc.subjectдинамічний діапазон
dc.subjectatomic emission spectral analysis
dc.subjectarc spectrum source
dc.subjectoptical spectrometer
dc.subjectCCD photodetector
dc.subjectresolution
dc.subjectdynamic range
dc.titleПідвищення метрологічних та експлуатаційних характеристик елементів та систем атомно-емісійного спектрального аналізу
dc.title.alternativeImproving metrological and operational characteristics of elements and systems of atomic emission spectral analysis
dc.typeDissertation

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 4 з 4
Вантажиться...
Ескіз
Назва:
aref_Yegorov.pdf
Розмір:
740,87 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Вантажиться...
Ескіз
Назва:
dis_Yegorov.pdf
Розмір:
5,25 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Вантажиться...
Ескіз
Назва:
Alekseev_for_Yegorov.pdf
Розмір:
1,35 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:
Вантажиться...
Ескіз
Назва:
Churiymov_for_Yegorov.pdf
Розмір:
3,43 MB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Опис:

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Вантажиться...
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
7,8 KB
Формат:
Item-specific license agreed upon to submission
Опис: