Підвищення метрологічних та експлуатаційних характеристик елементів та систем атомно-емісійного спектрального аналізу

Єгоров, Вадим Анатолійович; Yegorov, V.A.

Підвищення метрологічних та експлуатаційних характеристик елементів та систем атомно-емісійного спектрального аналізу

dc.contributor.author	Єгоров, Вадим Анатолійович
dc.contributor.author	Yegorov, V.A.
dc.date.accessioned	2021-05-25T08:49:10Z
dc.date.available	2021-05-25T08:49:10Z
dc.date.issued	2020
dc.description	Дисертацію присвячено розв’язанню задачі виявлення фізичних закономірностей процесів збудження, аналізу та реєстрації спектрів плазмових утворень в апаратурі атомно-емісійного спектрального аналізу (АЕСА), та використання цих закономірностей для удосконалення аналітичної апаратури. Виконана розробка комплексу апаратури АЕСА з удосконаленими метрологічними та експлуатаційними характеристиками. Розроблено та виготовлено дуговий генератор з програмним керуванням параметрами розряду. Створено декілька багатоканальних спектрометрів. Розроблено та виготовлено камери реєстрації спектрів. Розроблено способи підвищення роздільної здатності фотоприймачів. Запропоновані способи розширення динамічного діапазону фотодетекторів. Розроблена апаратура реєстрації гіперспектральних зображень. Запропоновано алгоритм оптимальної фільтрації результатів спектральних вимірювань.	ru_RU
dc.description.abstract	Yegorov V. A. Improving metrological and operational characteristics of elements and systems of atomic emission spectral analysis. – Manuscript. Thesis for Candidate Degree in Physical and Мathematical Sciences, Speciality 01.04.01 – Physics of Devices, Elements and Systems. – O. Ya. Usikov Institute for Radiophysics and Electronics, National Academy of Sciences of Ukraine; V. N. Karazin Kharkiv National University, Ministry of Education and Science of Ukraine, Kharkiv, 2020. The dissertation is devoted to solving the problem of identifying the physical laws of the processes of excitation, analysis and registration of the spectra of arc and spark plasma formations in the equipment for atomic emission spectral analysis, and the use of these laws to improve the metrological and operational characteristics of analytical equipment. The development and creation of a complex of equipment for atomic emission spectral analysis, research and implementation of methods for improving their metrological and operational characteristics have been completed.	ru_RU
dc.identifier.citation	Єгоров, Вадим Анатолійович. Підвищення метрологічних та експлуатаційних характеристик елементів та систем атомно-емісійного спектрального аналізу : дисертація ... кандидата фізико-математичних наук за спеціальністю 01.04.01 – фізика приладів, елементів і систем / В.А. Єгоров ; Інститут радіофізики та електроніки ім. О. Я. Усикова НАН України, Харківський національний університет імені В. Н. Каразіна. – Харків, 2020. - 198 с.	ru_RU
dc.identifier.uri	https://ekhnuir.karazin.ua/handle/123456789/16137
dc.language.iso	uk	ru_RU
dc.publisher	Харків : Харківський національний університет імені В.Н. Каразіна	ru_RU
dc.subject	атомно-емісійний спектральний аналіз	ru_RU
dc.subject	дугове джерело спектра	ru_RU
dc.subject	оптичний спектрометер	ru_RU
dc.subject	ПЗЗ фотодетектор	ru_RU
dc.subject	роздільна здатність	ru_RU
dc.subject	динамічний діапазон	ru_RU
dc.subject	atomic emission spectral analysis	ru_RU
dc.subject	arc spectrum source	ru_RU
dc.subject	optical spectrometer	ru_RU
dc.subject	CCD photodetector	ru_RU
dc.subject	resolution	ru_RU
dc.subject	dynamic range	ru_RU
dc.title	Підвищення метрологічних та експлуатаційних характеристик елементів та систем атомно-емісійного спектрального аналізу	ru_RU
dc.title.alternative	Improving metrological and operational characteristics of elements and systems of atomic emission spectral analysis	ru_RU
dc.type	Book	ru_RU